[发明专利]一种光纤延迟量的低相干测量方法及系统无效
| 申请号： | 200910084770.8 | 申请日： | 2009-05-19 |
| 公开（公告）号： | CN101561296A | 公开（公告）日： | 2009-10-21 |
| 发明（设计）人： | 张春熹;张晓青;胡姝玲;欧攀;胡汉伟;陈亦男 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01D5/26 | 分类号： | G01D5/26;G01B9/02;G01B11/02 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郑立明 |
| 地址： | 100083*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种光纤延迟量的低相干测量方法及系统，以解决现有技术中存在的测量精度较低、对于部分范围光纤长度无法测量、测量设备较复杂的问题。本发明包括将等光强的两路光中的第一路光通过预定长度的光纤，调整第二路光的光程并使两路光产生干涉条纹，标记干涉条纹的零级中心条纹的位置；改变第一路光通过的光纤的长度，再次调整第二路光的光程并使两路光产生干涉条纹，使两路光产生干涉条纹的零级中心条纹的位置与标记的零级中心条纹的位置重合，记录第二路光在第二次调整过程中的光程改变量；根据第二路光在第二次调整过程中的光程改变量和改变长度的光纤的纤芯折射率得到改变长度的光纤的延迟量。本发明用于测量光开关和光纤阵列组成的光纤延迟模块。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光纤 延迟 相干 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种光纤延迟量的低相干测量方法，其特征在于，包括：将等光强的两路光中的第一路光通过预定长度的光纤，调整第二路光的光程并使两路光产生干涉条纹，标记所述干涉条纹的零级中心条纹的位置；改变第一路光通过的光纤的长度，再次调整第二路光的光程并使两路光产生干涉条纹，使两路光产生干涉条纹的零级中心条纹的位置与标记的零级中心条纹的位置重合，记录第二路光在第二次调整过程中的光程改变量；根据所述第二路光在第二次调整过程中的光程改变量和所述改变长度的光纤的纤芯折射率得到所述改变长度的光纤的延迟量。
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