[发明专利]一种X-射线衍射仪测定超细粉末的制样方法无效
| 申请号： | 200910087747.4 | 申请日： | 2009-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN101587035A | 公开（公告）日： | 2009-11-25 |
| 发明（设计）人： | 李波;郭永恒;李荣柱 | 申请（专利权）人： | 中国铝业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28;G01N23/20 |
| 代理公司： | 中国有色金属工业专利中心 | 代理人： | 李迎春 |
| 地址： | 100082北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种X-射线衍射仪测定超细粉末的制样方法，其特征在于其制品过程的步骤依次包括：(1)首先在玛瑙研钵中把团聚的超细粉末研开；(2)取一平板玻璃水平放置，将一载玻片放置在平板玻璃上；(3)将样品盒拿掉后盒盖，倒扣放到载玻片上；(4)将研开后的超细粉末充填到样品盒中，充填的超细粉末的充满压实后，料面与样品盒帮高度平齐；(5)然后盖上样品盒后盒盖，将充填了超细粉末的样品盒和载玻片扣紧一同翻转过来，拿掉载波片，将与载玻片接触超细粉沫面作为X-衍射的测试面，制得测试样。本发明方法制得的超细粉末X-衍射样品表面平整，无明显择优取向，重现性好，不需要专业设备，方法简单，成本低廉，操作方便。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 衍射 测定 粉末 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X-射线衍射仪测定超细粉末的制样方法，其特征在于其制品过程的步骤依次包括：(1)首先在玛瑙研钵中把团聚的超细粉末研开；(2)取一平板玻璃水平放置，将一载玻片放置在平板玻璃上；(3)将样品盒拿掉后盒盖，倒扣放到载玻片上；(4)将研开后的超细粉末充填到样品盒中，充填的超细粉末的充满压实后，料面与样品盒帮高度平齐；(5)然后盖上样品盒后盒盖，将充填了超细粉末的样品盒和载玻片扣紧一同翻转过来，拿掉载波片，将与载玻片接触超细粉沫面作为X-衍射的测试面，制得测试样。
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