[发明专利]双能X射线阵列探测器有效
申请号: | 200910088623.8 | 申请日: | 2009-06-30 |
公开(公告)号: | CN101937094A | 公开(公告)日: | 2011-01-05 |
发明(设计)人: | 赵书清;李元景;代主得;张清军 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01T1/20 | 分类号: | G01T1/20;G01T1/202;G01N23/04 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 王岳;李家麟 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种双能X射线阵列探测器,其在X射线入射方向分别包含第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、PCB板、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列,上述各功能器件集成为一个部件。利用这种双能X射线阵列探测器能够测量穿透物体的X射线能谱中低能部分和高能部分的相对差别,进而提供材料识别的依据。 | ||
搜索关键词: | 射线 阵列 探测器 | ||
【主权项】:
一种双能X射线阵列探测器,其特征在于,该双能X射线阵列探测器在沿X射线的入射方向上依序包括第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、PCB板、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列,所述第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列均集成在所述PCB板上。
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