[发明专利]双能X射线阵列探测器有效

专利信息
申请号: 200910088623.8 申请日: 2009-06-30
公开(公告)号: CN101937094A 公开(公告)日: 2011-01-05
发明(设计)人: 赵书清;李元景;代主得;张清军 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;G01T1/202;G01N23/04
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王岳;李家麟
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种双能X射线阵列探测器,其在X射线入射方向分别包含第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、PCB板、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列,上述各功能器件集成为一个部件。利用这种双能X射线阵列探测器能够测量穿透物体的X射线能谱中低能部分和高能部分的相对差别,进而提供材料识别的依据。
搜索关键词: 射线 阵列 探测器
【主权项】:
一种双能X射线阵列探测器,其特征在于,该双能X射线阵列探测器在沿X射线的入射方向上依序包括第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、PCB板、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列,所述第一闪烁体阵列、第一光电二极管阵列、第一滤波片、第二滤波片、第二光电二极管阵列和第二闪烁体阵列均集成在所述PCB板上。
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