[发明专利]一种X射线荧光激发检测装置有效
| 申请号： | 200910089897.9 | 申请日： | 2009-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN101614684A | 公开（公告）日： | 2009-12-30 |
| 发明（设计）人： | 周俊武;赵建军;徐宁;曾荣杰 | 申请（专利权）人： | 北京矿冶研究总院 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郑立明 |
| 地址： | 100044北京市西直*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明的一种X射线荧光激发检测装置，属于载流X射线荧光品位分析技术领域。该X射线荧光激发检测装置用于检测矿物样品中的矿物品位，其包括安装基架、样品承载装置、X射线发生装置和探测装置；所述的样品承载装置、X射线发生装置和探测装置固定安装于安装基架上，并且X射线发生装置与样品承载装置相通，探测装置与样品承载装置相通。本发明的X射线荧光激发检测装置通过上述的设计，具有结构紧凑简单、可以方便的同时安装多个探测装置、测量的准确度高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 荧光 激发 检测 装置 | ||
【主权项】：
1、一种X射线荧光激发检测装置，用于检测矿物样品中的矿物品位，其特征在于，该装置包括安装基架、样品承载装置、X射线发生装置和探测装置；所述的样品承载装置、X射线发生装置和探测装置固定安装于安装基架上，并且X射线发生装置与样品承载装置相通，探测装置与样品承载装置相通。
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