[发明专利]一种纳米尺寸金属插塞电极阵列的制备方法无效
申请号: | 200910091398.3 | 申请日: | 2009-08-19 |
公开(公告)号: | CN101996944A | 公开(公告)日: | 2011-03-30 |
发明(设计)人: | 王晓峰;张加勇;王晓东;季安;杨富华 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L21/82 | 分类号: | H01L21/82;H01L45/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种应用于相变存储器的纳米尺寸金属插塞电极阵列的制作方法,包括:在衬底上淀积金属,作为相变存储器的下电极,接着在下电极上制备一层绝缘材料;在绝缘材料上,采用光刻方法制备金属插塞电极阵列的小孔,孔底部为在衬底上淀积的金属;采用无电化学镀的方法在小孔内填充金属;采用化学镀方法制作纳米尺寸的金属插塞电极阵列,作为相变存储器的下电极加热层;淀积相变材料;淀积金属,作为相变存储器的上电极;光刻、干法刻蚀顶部金属形成顶部电极图形;钝化开孔,引出电极,完成纳米尺寸金属插塞电极阵列的制作。本发明避免了溅射、电镀、CVD等传统小孔填充方法的小孔填充质量不好、成本高等缺陷,并将其应用于相变存储器电极加热层的制造中。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳米 尺寸 金属 电极 阵列 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种应用于相变存储器的纳米尺寸金属插塞电极阵列的制作方法,其特征在于,该方法包括:a、在衬底上淀积金属,作为相变存储器的下电极,接着在下电极上制备一层绝缘材料;b、在绝缘材料上,采用光刻方法制备金属插塞电极阵列的小孔,孔底部为在衬底上淀积的金属;c、采用无电化学镀的方法在小孔内填充金属;d、采用化学镀方法制作纳米尺寸的金属插塞电极阵列,作为相变存储器的下电极加热层;e、淀积相变材料;f、淀积金属,作为相变存储器的上电极;g、光刻、干法刻蚀顶部金属形成顶部电极图形;h、钝化开孔,引出电极,完成纳米尺寸金属插塞电极阵列的制作。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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