[发明专利]加速器剂量监测装置及校正方法、加速器靶点P偏移监测方法有效
申请号: | 200910092559.0 | 申请日: | 2009-09-11 |
公开(公告)号: | CN102023306A | 公开(公告)日: | 2011-04-20 |
发明(设计)人: | 阮明;赵崑;彭华 | 申请(专利权)人: | 同方威视技术股份有限公司 |
主分类号: | G01T1/02 | 分类号: | G01T1/02;G01N23/04 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王新华 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种X射线辐射成像系统中的加速器X射线剂量监测装置,其中所述X射线辐射成像系统包括:加速器X射线源;对X射线进行准直的准直器;和检测探测器,所述X射线剂量监测装置包括:X射线剂量监测探测器,其中基于X射线剂量监测探测器监测到的X射线辐射剂量对检测探测器测量到的X射线剂量进行校正。X射线剂量监测探测器设置在准直器的准直缝的至少一侧上,用于监测从加速器辐射出的X射线的剂量。其通过改变剂量监测点的位置,将监测剂量探测器设置在准直器上,该监测探测器离加速器靶点很近,其接受的加速器剂量率很高,从而确保数据具有很高的统计性,同时又不阻挡正常束流,从而不会降低检测探测器的探测数据的统计性。 | ||
搜索关键词: | 加速器 剂量 监测 装置 校正 方法 偏移 | ||
【主权项】:
一种X射线辐射成像系统中的加速器X射线剂量监测装置,其中所述X射线辐射成像系统包括:用于辐射X射线的加速器X射线源;用于对加速器X射线进行准直的准直器;用于探测穿透被检测物体之后的X射线剂量的检测探测器,所述加速器X射线剂量监测装置包括:X射线剂量监测探测器,其中基于所述X射线剂量监测探测器监测到的X射线辐射剂量对检测探测器测量到的X射线剂量进行校正,其特征在于:所述X射线剂量监测探测器设置在所述准直器的准直缝的至少一侧上,用于监测从加速器辐射出的X射线的剂量。
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