[发明专利]基于X射线的密度、浓度和厚度测试装置及方法无效

专利信息
申请号: 200910099786.6 申请日: 2009-06-15
公开(公告)号: CN101587052A 公开(公告)日: 2009-11-25
发明(设计)人: 叶瑛;刘利光;秦华伟;夏枚生;潘依雯 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01N9/24 分类号: G01N9/24;G01B15/02
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 代理人: 张法高
地址: 310027*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供了一种基于X射线的密度、浓度和厚度测试装置及方法。它采用基于X射线的密度、浓度和厚测试仪测定2至5个密度、浓度和厚测已知的样品,通过最小二乘法计算得出参比计数管和工作计数管信号强度比与待测物质密度或浓度关系式,测定未知物质的密度或浓度时,它与工作计数管信号强度与参比计数管信号强度比遵循该关系式。本发明置于被检测物体的两侧,结构紧凑,使用方便,能够实现在线测量;同时能够达到一种装置可以多种用途,应用范围广。优于目前其他密度、浓度和测厚仪器和装置所使用的方法。
搜索关键词: 基于 射线 密度 浓度 厚度 测试 装置 方法
【主权项】:
1.一种基于X射线的密度、浓度和厚度测试装置,其特征在于包括n形支架(1)、参比计数管(2)、工作计数管(3)、连接支架(5)、动力缆(6)、前置放大和模数转换(7)、抗干扰信号缆(8)、计算机(9)、射线源(10)、配电与控制系统(11);在n形支架(1)两滑轨上分别设有参比计数管(2)、工作计数管(3);参比计数管(2)通过连接支架(5)与射线源(10)连接;工作计数管(3)与前置放大和模数转换(7)、抗干扰信号缆(8)、计算机(9)依次连接;连接支架(5)和工作计数管(3)通过动力缆(6)与配电与控制系统(11)连接。
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