[发明专利]光纤环的温度性能评测装置

摘要

本发明公开了一种光纤环的温度性能评测装置。它包括PIN管检测器，SLD光源，锁相放大器，耦合器，计算机，Y波导，加热器；耦合器分别与SLD光源、PIN管、Y波导连接；锁相放大器与PIN管、Y波导、计算机连接；Y波导与待测光纤环连接形成回路，光纤环置于加热器中，用锁相放大器对Y波导进行调制，接收PIN管的信号并通过信号线与计算机连接，计算机通过采集软件定时采集锁相放大器输出的X显示信号。本发明不但解决了光纤环在温度变化环境中的稳定性、一致性的评测及筛选问题，而且操作简单、维护方便，该仿真装置模拟真实度高，对光纤环的温度敏感性评测准确、可靠。

主权项

1.一种光纤环的温度性能评测装置，其特征在于包括PIN管检测器(1)，SLD光源(2)，锁相放大器(3)，耦合器(4)，计算机(5)，Y波导(6)，加热器(7)；耦合器(4)分别与SLD光源(2)、PIN管(1)、Y波导(6)连接；锁相放大器(3)分别与PIN管(1)、Y波导(6)、计算机(5)连接；Y波导(6)与待测光纤环(8)连接形成回路，光纤环(8)置于加热器(7)中，用锁相放大器(3)对Y波导(6)进行调制，接收PIN管(1)的信号并通过信号线与计算机(5)连接，计算机(5)通过采集软件定时采集锁相放大器(3)输出的X显示信号。