[发明专利]液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法有效
| 申请号： | 200910106440.4 | 申请日： | 2009-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN101846819A | 公开（公告）日： | 2010-09-29 |
| 发明（设计）人： | 李卫凤;高明 | 申请（专利权）人： | 比亚迪股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/139 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518118 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其中包括以下步骤：A、丝印完密封框胶后，在基板的定向层上直接涂覆一层液晶；B、将涂有液晶层的基板放在带有偏光系统的光学放大系统下，通过调整光学放大系统的亮度和放大倍数，观察基板上是否有丝印网痕。本发明通过丝印完密封框胶后，在基板的定向层上直接涂覆一层液晶，液晶分子则会按照定向层摩擦的方向进行排列和旋转，如果定向层上的摩擦定向被破坏或者细微的定向不良，根据液晶的双折射特性，那么被破坏或者定向不良处的透光效果就与其它区域不一样，通过带有偏光系统的光学放大系统就可以观察到此透光的差异，以此来实现在线检测丝印网痕。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶显示器 制造 丝印 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种液晶显示器制造中丝印网痕的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：A、丝印完密封框胶后，在基板的定向层上直接涂覆一层液晶；B、将涂有液晶层的基板放在带有偏光系统的光学放大系统下，通过调整光学放大系统的亮度和放大倍数，观察基板上是否有丝印网痕。
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