[发明专利]一种高功率密度激光溅射电离飞行时间质谱仪及其应用无效
| 申请号： | 200910110850.6 | 申请日： | 2009-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN101465261A | 公开（公告）日： | 2009-06-24 |
| 发明（设计）人： | 杭纬 | 申请（专利权）人： | 厦门大学 |
| 主分类号： | H01J49/40 | 分类号： | H01J49/40;G01N27/64 |
| 代理公司： | 厦门南强之路专利事务所 | 代理人： | 马应森;刘 勇 |
| 地址： | 361005福*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 一种高功率密度激光溅射电离飞行时间质谱仪及其应用，涉及一种质谱仪。提供一种高功率密度激光溅射电离飞行时间质谱仪及其应用。设有真空腔体、激光光源、激光聚焦透镜、采样锥、离子传输装置、截取锥和飞行时间质量分析器；激光光源和激光聚焦透镜设于真空腔体外部，采样锥、离子传输装置、截取锥和飞行时间质量分析器依次设于真空腔体中。真空腔体设有三级真空室，一级真空室设于采样锥之前，二级真空室设于采样锥与截取锥之间，三级真空室设于截取锥之后。通过与离子源内辅气分子(原子)的碰撞，样品离子的动能得到降低，有利采样和传输；多价离子得以降价而转换为单价离子，可去除多价离子的干扰峰，使谱图清晰易读，分辨能力强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功率密度 激光 溅射 电离 飞行 时间 质谱仪 及其 应用 | ||
【主权项】：
1、一种高功率密度激光溅射电离飞行时间质谱仪，其特征在于设有真空腔体、激光光源、激光聚焦透镜、采样锥、离子传输装置、截取锥和飞行时间质量分析器；激光光源和激光聚焦透镜设于真空腔体外部，采样锥、离子传输装置、截取锥和飞行时间质量分析器依次设于真空腔体中。
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