[发明专利]用于大气颗粒单颗粒分析的微束X射线荧光设备有效
| 申请号： | 200910119850.2 | 申请日： | 2009-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN101498647A | 公开（公告）日： | 2009-08-05 |
| 发明（设计）人： | 孙天希;刘志国;滕玥鹏;杨科 | 申请（专利权）人： | 北京师范大学 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N23/227 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100875北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 基于“坪区”毛细管X射线会聚透镜的微束X射线分析设备，它包括X射线光源、针孔光阑、“坪区”毛细管X射线会聚透镜、样品、显微镜、探测器，本设备的核心部件是“坪区”毛细管X射线会聚透镜。由于“坪区”毛细管X射线会聚透镜微焦斑的“坪区”处X射线强度分布均匀度高，且具有较高的功率密度增益，所以该谱仪特别适用于对大气颗粒物等微小颗粒物进行单颗粒分析：快速获得元素特征峰相对强度与单颗粒在“坪区”中位置无关的能谱——单颗粒“指纹”谱。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 大气 颗粒 分析 射线 荧光 设备 | ||
【主权项】：
1. 一种基于“坪区”毛细管X射线会聚透镜的微束X射线分析设备，包括X射线光源、针孔光阑、样品、显微镜、探测器，其特征在于：该谱仪还包括在X射线光源和针孔光阑之间加有一“坪区”毛细管X射线会聚透镜。
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