[发明专利]一种产生测试用例的方法及装置有效
| 申请号： | 200910131169.X | 申请日： | 2009-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN101859273A | 公开（公告）日： | 2010-10-13 |
| 发明（设计）人： | 唐文 | 申请（专利权）人： | 西门子(中国)有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100102 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种产生测试用例的方法，该方法首先根据预先设置的测试用例生成规则进行穷举，得到大量测试用例，然后根据测试用例之间的近似程度删除多余的测试用例，如此得到的测试用例既符合模糊测试对测试用例的数量的要求，又不包含冗余的测试用例，从而能够提高模糊测试的效率。本发明还公开了一种用于产生测试用例的系统。应用本发明能够提高模糊测试的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 产生 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种产生测试用例的方法，包括：根据预先设置的测试用例生成规则进行穷举，得到大量测试用例；计算所述测试用例之间的近似程度，并根据所述测试用例之间的近似程度删除多余的测试用例。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西门子(中国)有限公司，未经西门子(中国)有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200910131169.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：清洁方法
- 下一篇：低电压源带隙基准电压电路和一种集成电路
