[发明专利]系统开路测试的方法无效
| 申请号： | 200910131318.2 | 申请日： | 2009-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN101865964A | 公开（公告）日： | 2010-10-20 |
| 发明（设计）人： | 徐志学 | 申请（专利权）人： | 尼克森微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 梁挥;祁建国 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开一种系统开路测试的方法。首先，提供一待测系统。此待测系统具有至少一静电放电保护电路、一信号输入管脚、一第一电压端与一第二电压端。其中，第一电压端与第二电压端的压差用以供电至待测系统。静电放电保护电路的一端耦接信号输入管脚，另一端耦接第一电压端。并且，静电放电保护电路具有一内部二极管。随后，连接一个二极管至信号输入管脚。此二极管的导通方向与静电放电保护电路的内部二极管的导通方向相反。接下来，通过此二极管提供一测试信号至待测系统以进行测试。 | ||
| 搜索关键词： | 系统 开路 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种系统开路测试的方法，其特征在于，包含下列步骤：提供一待测系统，该待测系统具有至少一静电放电保护电路、一信号输入管脚、一第一电压端与一第二电压端，该静电放电保护电路的一端耦接该信号输入管脚，另一端耦接该第一电压端，并且，该静电放电保护电路具有一个内部二极管；耦接一个单向导通元件至该静电放电保护电路，该单向导通元件的导通方向与该静电放电保护电路的该内部二极管的导通方向相反；以及通过该单向导通元件提供一测试信号至该待测系统。
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