[发明专利]一种半导体电荷储存装置结构及其制造方法有效
申请号: | 200910132090.9 | 申请日: | 2009-04-17 |
公开(公告)号: | CN101567393A | 公开(公告)日: | 2009-10-28 |
发明(设计)人: | 吴昭谊 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L29/792 | 分类号: | H01L29/792;H01L29/51;H01L27/108;H01L21/336;H01L21/8242 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种半导体电荷储存装置结构及其制造方法。该电荷捕捉装置包含一半导体衬底其具有一表面区域,此半导体衬底具有一第一导电型态。一电荷捕捉材料覆盖于该半导体衬底的该表面区域之上且与其连接,该电荷捕捉材料具有一第一介电常数及一第一电荷捕捉能力,该第一介电常数是高于氧化硅的介电常数。一介电材料覆盖于该电荷捕捉材料之上且与其连接,该介电材料是由转换该电荷捕捉材料的一部分所形成,以提供一第二电荷捕捉能力。该装置也包含一导电材料覆盖于该介电材料之上,该导电材料可以用来接收导致电荷被捕捉于该电荷捕捉装置内的一电子信号。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体 电荷 储存 装置 结构 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种电荷捕捉装置,其特征在于,包含:一半导体衬底,其具有一表面区域;一电荷捕捉材料覆盖于该半导体衬底的该表面区域之上,该电荷捕捉材料具有一高于氧化硅的介电常数的第一介电常数,且该电荷捕捉材料具有一第一电荷捕捉能力;一介电材料,由转换该电荷捕捉材料的一部分所形成,该电荷捕捉材料及该介电材料构成一复合介电层,该复合介电层具有一第二电荷捕捉能力,且该第二电荷捕捉能力高于该第一电荷捕捉能力;以及一导电材料覆盖于该复合介电层之上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于旺宏电子股份有限公司,未经旺宏电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910132090.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:电池组
- 下一篇:光盘驱动器及其控制方法
- 同类专利
- 专利分类