[发明专利]用于校准多轴计量系统的几何形状的方法有效

专利信息
申请号: 200910135491.X 申请日: 2004-11-18
公开(公告)号: CN101539413A 公开(公告)日: 2009-09-23
发明(设计)人: 保罗·墨菲;乔恩·弗里格;格雷格·福布斯 申请(专利权)人: QED国际科技公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01B9/02
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 王新华
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用于校正和对准计量系统的方法,其中所述系统包括具有多轴零件定位装置的机器,并且在机器内嵌有波阵面测量量具。该量具被用来确定平动轴和转动轴之间、零件表面坐标和机器坐标之间、以及机器坐标和嵌入式量具坐标之间的空间关系,校准机器和嵌入式量具的各个分量,并且用于将自身对准机器。完整的方法包括以下步骤:粗略地对准机器转动轴和它们各自的平动轴,并且为转动轴设置标称零点;将嵌入式量具主机架对准机器轴线;将嵌入式量具的焦点对准到主轴轴线上;如此对准之后,确定转动轴之间的空间偏移;精确地对准机器转动轴和它们各自的平动轴;以及为转动轴设置精确的零点。
搜索关键词: 用于 校准 计量 系统 几何 形状 方法
【主权项】:
1.一种用于确定测试零件相对于主轴轴线的未对准度的零件安装方法,该方法用在计量系统内,其中所述计量系统包括具有主轴轴线和波阵面测量量具的零件定位装置,假定量具到主轴的未对准值是已知的,所述方法包括下述步骤:a)将所述测试零件安装到所述主轴轴线上,从而所述测试零件的表面暴露给所述量具;b)在所述主轴的转动位置处通过所述量具获取所述测试零件表面的测量值;c)从所述表面的测量值中提取倾斜分量;d)从所述倾斜分量中减去所述假定已知的量具到主轴的未对准值,以便确定主轴到零件的未对准度。
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