[发明专利]用于废气传感器的再生装置及使用该装置的气体控制系统有效
| 申请号： | 200910139081.2 | 申请日： | 2009-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN101603469A | 公开（公告）日： | 2009-12-16 |
| 发明（设计）人： | 山本匠实;小坂友二 | 申请（专利权）人： | 株式会社电装 |
| 主分类号： | F02D41/00 | 分类号： | F02D41/00;F02D43/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王永建 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种检测单元(S300、S322)，其检测废气传感器(70)的响应时长(CTP)。当判定单元(S302、S324)判定响应时长(CTP)等于或长于预定时长(R1)时，废气温度控制单元(S312、S336)升高废气的废气温度(ET)，并且流速控制单元(S306、S330)提高废气的流速(FR)。这样，再生装置(90)可以清除粘附到废气传感器(70)上的微粒，所述废气传感器(70)检测内燃机(2)的废气通道(100)中的废气成分。本发明还涉及一种再生装置(90)及一种使用所述再生装置(90)的气体控制系统。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 废气 传感器 再生 装置 使用 气体 控制系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于使检测内燃机(2)的废气通道(100)中的废气成分的废气传感器(70)再生的再生装置(90)，所述再生装置(90)包括：用于检测废气传感器(70)的响应时长的检测单元(S300、S322)；用于判定所述响应时长是否等于或长于预定时长(R1)的判定单元(S302、S324)；废气温度控制单元(S312、S336)，其用于在所述判定单元(S302、S324)判定所述响应时长(CTP)等于或长于所述预定时长(R1)时，控制废气温度升高部分(4)，以升高废气通道(100)中废气的废气温度(ET)，以便清除粘附到所述废气传感器(70)上的微粒；流速控制单元(S306、S330)，其用于在所述判定单元(S302、S324)判定所述响应时长(CTP)等于或长于所述预定时长(R1)时，控制流速提高部分(50)，以提高废气通道(100)中废气的流速(FR)，以便清除粘附到废气传感器(70)上的微粒。
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