[发明专利]磁盘加密位锁测试方法无效

专利信息
申请号: 200910140388.4 申请日: 2009-07-21
公开(公告)号: CN101964037A 公开(公告)日: 2011-02-02
发明(设计)人: 彭辉;陈志丰 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G06F21/04 分类号: G06F21/04
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 陈红
地址: 中国台湾台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明涉及一种磁盘加密位锁测试方法,用于计算机系统。计算机系统包含磁盘系统模块及通用序列总线硬盘。磁盘加密位锁测试方法包含下列步骤:根据该磁盘系统模块的一第一磁盘系统信息产生一磁盘系统信息快照;设定重启参数及测试次数门槛参数;根据重启参数重启计算机系统,以撷取计算机系统的第二磁盘系统信息;判断第二磁盘系统信息及磁盘系统信息快照是否相符;当第二磁盘系统信息及磁盘系统信息快照相符时,使通用序列总线硬盘释出金钥进入计算机系统的操作系统以记录测试次数;及判断测试次数是否超过测试次数门槛参数;当超过时,结束测试,当未超过时,再次根据重启参数重启该计算机系统。
搜索关键词: 磁盘 加密 测试 方法
【主权项】:
一种磁盘加密位锁测试方法,用于一计算机系统,其特征在于,该计算机系统包含一磁盘系统模块以及一通用序列总线硬盘,该磁盘加密位锁测试方法包含下列步骤:根据该磁盘系统模块的一第一磁盘系统信息产生一磁盘系统信息快照;设定一重启参数及一测试次数门槛参数;根据该重启参数重启该计算机系统,以撷取该磁盘系统模块的一第二磁盘系统信息;判断该第二磁盘系统信息及该磁盘系统信息快照是否相符;当该第二磁盘系统信息及该磁盘系统信息快照相符时,使该通用序列总线硬盘释出金钥;进入该计算机系统的一操作系统,以记录一测试次数;以及判断该测试次数是否超过该测试次数门槛参数;当该测试次数超过该测试次数门槛参数时,结束测试;以及当该测试次数未超过该测试次数门槛参数,再次根据该重启参数重启该计算机系统。
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