[发明专利]源于有效原子序数计算的材料成分检测无效
| 申请号： | 200910140680.6 | 申请日： | 2009-06-05 |
| 公开（公告）号： | CN101598686A | 公开（公告）日： | 2009-12-09 |
| 发明（设计）人： | X·吴 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 柯广华;徐予红 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明名称为“源于有效原子序数计算的材料成分检测”。提供一种用于计算形成通过放射线形态成像的物体的材料的原子序数的技术。该方法包括访问物体的第一单色图像和第二单色图像(76)，第一单色图像在第一能量级采集，并且第二单色图像在第二能量级采集。第一单色图像与第二单色图像之间的质量衰减系数的比率可获得(78)。基于质量衰减系数的比率，可计算物体的材料的原子序数(82)。 | ||
| 搜索关键词： | 源于 有效 原子序数 计算 材料 成分 检测 | ||
【主权项】：
1.一种计算通过放射线形态检查的材料的原子序数的方法，所述方法包括：访问物体的第一单色图像和第二单色图像(66，76)，所述第一单色图像在第一能量级采集，并且所述第二单色图像在第二能量级采集；获得所述第一单色图像与所述第二单色图像之间的质量衰减系数的比率(68，78)；以及基于质量衰减系数的所述比率来计算关于所述物体的材料的原子序数(70)。
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