[发明专利]一种低表面反射率的单晶硅太阳电池绒面制作工艺有效
申请号: | 200910152753.3 | 申请日: | 2009-09-28 |
公开(公告)号: | CN101661972A | 公开(公告)日: | 2010-03-03 |
发明(设计)人: | 汪雷;肖俊峰;杨德仁 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人: | 韩介梅 |
地址: | 310027*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开的低表面反射率的单晶硅太阳电池绒面制作工艺,步骤如下:先清洗硅片,去除硅片表面损伤;然后放入KOH和异丙醇的混合溶液中,在硅片表面形成大小均匀的金字塔结构;再将具有金字塔结构的硅片放入HF和Fe(NO3)3的混合液中腐蚀,在金字塔表面形成多孔硅。本发明制作工艺处理过程简单,腐蚀液价格便宜,可以与现有工业生产工艺兼容,处理后硅片的表面反射率低,可小于5%。 | ||
搜索关键词: | 一种 表面 反射率 单晶硅 太阳电池 制作 工艺 | ||
【主权项】:
1.一种低表面反射率的单晶硅太阳电池绒面制作工艺,包括以下步骤:1)将硅片投入20~30mt%KOH溶液中清洗,去除硅片表面损伤;2)将清洗后的硅片放入KOH和异丙醇的混合溶液中,其中KOH的质量浓度为1~3%,异丙醇的体积浓度为5~8%,于80℃条件下反应30~60min,在硅片表面形成大小均匀的金字塔结构;3)将步骤2)的具有金字塔结构的硅片放入装有腐蚀液的聚四氟乙烯釜中,密封,在10~60℃下,反应15min~60min,腐蚀液为5mol/L~15mol/L HF和0.1mol/L~0.4mol/L Fe(NO3)3的混合液,在金字塔表面形成多孔硅,得到低表面反射率的单晶硅太阳电池绒面。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江大学,未经浙江大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910152753.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的