[发明专利]X射线检测器及其制造方法无效
| 申请号： | 200910160773.5 | 申请日： | 2009-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN101957452A | 公开（公告）日： | 2011-01-26 |
| 发明（设计）人： | 邬柱;张风超 | 申请（专利权）人： | GE医疗系统环球技术有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20;H01L27/146;H01L21/82 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 李湘;徐予红 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供具有较佳的从闪烁体到光电检测器的光传输特性、低成本的X射线检测器以及制造这样一种X射线检测器的方法。用于检测X射线的X射线检测器包括光电检测器和由涂覆在光电检测器的光接收表面上的荧光材料形成的闪烁体层，其中该荧光材料将X射线转换为光。该荧光材料是稀土元素的酸式硫化物。该稀土元素的酸式硫化物是钆的酸式硫化物(Gd2O2S:Tb)。光电检测器在它的光接收表面上具有光电二极管阵列。该光电二极管阵列是二维阵列。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种检测X射线的X射线检测器，包括：光电检测器；以及由涂覆在光电检测器的光接收表面上的荧光材料形成的闪烁体层，所述荧光材料将X射线转换为光。
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