[发明专利]半导体器件及其制造方法、层离方法、以及转移方法有效
申请号: | 200910161413.7 | 申请日: | 2003-12-29 |
公开(公告)号: | CN101615592A | 公开(公告)日: | 2009-12-30 |
发明(设计)人: | 丸山纯矢;高山彻;大野由美子;山崎舜平 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L21/336;H01L27/12;H01L29/786;G02F1/1368 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 柯广华;李家麟 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本申请为半导体器件及其制造方法、层离方法、以及转移方法。试验了一种用来在典型为柔性塑料膜的具有柔性的衬底上制作TFT元件的技术。当结构中用光阻挡层或反射层来防止对层离层的损伤时,难以制造透射型液晶显示器件或向下发光的发光器件。在金属膜形成在衬底上的状态下,用物理方法或机械方法分离了衬底与层离膜,且提供了包含包括金属的氧化物膜的层离层和形成在金属膜上的包含硅的膜。具体地说,制作了一种TFT,此TFT借助于在金属膜上形成包括金属的氧化物层;用热处理方法晶化氧化物层;以及在氧化物层中或在氧化物层的二个界面处进行分离而得到。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 以及 转移 | ||
【主权项】:
1.一种制造半导体器件的方法,包含以下步骤:在衬底上形成包含钨的膜;在所述包含钨的膜上形成包含半导体元件与氧化物膜的层离层,因而形成插入在所述氧化物膜与所述包含钨的膜之间的包含钨氧化物的氧化物层;执行热处理,因而改变所述氧化物层中所述钨氧化物的成分;以及将所述层离层与所述包含钨的膜分离,其中,所述半导体元件提供在所述氧化物膜上,以及其中,所述分离出现在所述氧化物层中或在所述氧化物层与所述包含钨的膜之间的界面处。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造