[发明专利]测量各向异性物质的物理参数的装置及方法无效
| 申请号： | 200910161649.0 | 申请日： | 2009-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN101963495A | 公开（公告）日： | 2011-02-02 |
| 发明（设计）人： | 曾恒正;李瑞斌;陈威州 | 申请（专利权）人： | 瀚宇彩晶股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/26 | 分类号： | G01B11/26;G01B11/06;G01D5/26;G02F1/13 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 蹇炜 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种利用透射式外差干涉术测量各向异性物质的物理参数的方法及装置。将两道偏振状态相互正交且频率稍微不同的光束通过待测的各向异性物质，并通过线性偏光的检偏片来产生干涉。以光检测器检测此干涉光并转换为干涉信号，再由相位计或者是锁相放大器来获得干涉信号与参考信号的相位差。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 各向异性 物质 物理 参数 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种测量各向异性物质的物理量的方法，包含下列步骤：提供各向异性的物质；将两道偏振状态相互正交且频率不同的光束通过所述物质，所述两光束通过所述物质后会导致不同的相位延迟量；利用光检测器将所述两光束通过所述物质后的信号转换为电的干涉信号；及将所述干涉信号与参考信号比较，以得到两者的相位差。
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