[发明专利]滚动码产生系统与产生方法有效
申请号: | 200910163412.6 | 申请日: | 2009-08-19 |
公开(公告)号: | CN101996854A | 公开(公告)日: | 2011-03-30 |
发明(设计)人: | 陈福泰;张家宪 | 申请(专利权)人: | 京元电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;H01L21/66 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种滚动码产生系统与产生方法,其中滚动码产生系统包含一载体随机存取内存(vector ram)、数据下载模块、第一运算模块、修正模块、执行模块、确认模块、纪录检索模块、第二运算模块及验证模块。通过上述滚动码产生系统,可产生一滚动码,且进一步可将上述滚动码写入测试中的集成电路元件中。 | ||
搜索关键词: | 滚动 产生 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种滚动码产生系统,用于集成电路元件测试的测试机中,以产生一滚动码,且将该滚动码写入测试中的一集成电路元件中,其特征在于,该滚动码产生系统包括:一载体随机存取内存;一数据下载模块,用以读取一测试模板、一比较模板以及一写入数据,并将该测试模板与该比较模板下载至该载体随机存取内存中,其中该测试模板包含一空白区,以供写入一滚动码;一第一运算模块,将该写入数据进行运算而得到一滚动码;一修正模块,将该滚动码写入至该测试模板的空白区,藉以形成一修正模板;一执行模块,将该修正模板写入至测试中的集成电路元件,并自该集成电路元件内的修正模板输出至该载体随机存取内存内,以形成一写入范本;一确认模块,自该集成电路元件的修正模板中取得该滚动码;一纪录检索模块,检索该写入模板与该比较模板二者比较的差异,以产生的一修正纪录;一第二运算模块,将该修正纪录进行反运算,以获得一反运算滚动码;以及一验证模块,将该确认模块取得的滚动码及反运算滚动码的内容进行验证比对,以确认该滚动码为正确。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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