[发明专利]计算机设备和处理器诊断方法有效

专利信息
申请号: 200910163588.1 申请日: 2009-08-28
公开(公告)号: CN101714111A 公开(公告)日: 2010-05-26
发明(设计)人: 菱沼武夫;目崎义宪;石桥修 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F9/445
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 郑小军;陈昌柏
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种计算机设备和处理器诊断方法,该计算机设备包括第一处理器、第二处理器和主存储器。计算机设备还包括存储器诊断单元、诊断程序加载单元和缺陷功能识别单元。存储器诊断单元使第二处理器执行存储器诊断程序来对主存储器进行诊断,并识别主存储器中的缺陷区。诊断程序加载单元将用来对第一处理器的多种功能进行诊断的处理器诊断程序加载到主存储器中除了由存储器诊断单元识别出的缺陷区以外的区域中。缺陷功能识别单元使第二处理器执行由诊断程序加载单元加载的处理器诊断程序,并从第一处理器的功能中识别被禁止的缺陷功能。本发明能够可靠地识别处理器的缺陷功能,从而确保各种诊断测试的正常进行。
搜索关键词: 计算机 设备 处理器 诊断 方法
【主权项】:
一种计算机设备,包括:第一处理器;第二处理器;主存储器;存储器诊断单元,其使所述第二处理器执行存储器诊断程序来对所述主存储器进行诊断,并识别所述主存储器中的缺陷区;诊断程序加载单元,其将用来对所述第一处理器的多种功能进行诊断的处理器诊断程序加载到所述主存储器中除了由所述存储器诊断单元识别出的所述缺陷区之外的区域中;以及缺陷功能识别单元,其使所述第二处理器执行由所述诊断程序加载单元加载的处理器诊断程序,并从所述第一处理器的功能中识别被禁止的缺陷功能。
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