[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 200910165593.6 申请日: 2005-06-24
公开(公告)号: CN101620825A 公开(公告)日: 2010-01-06
发明(设计)人: 木村肇 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: G09G3/32 分类号: G09G3/32
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张亚宁;刘春元
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种具有电流输入型像素的半导体装置,其中提高了信号写入速度并减小了相邻晶体管之间变化的影响。当进行设定操作时(写入信号),串联连接的两个晶体管之一的源-漏电压变得非常低,因而对另一晶体管进行设定操作。在输出操作中,两个晶体管作为多栅极晶体管工作,因此,输出操作中的电流值可以小。换言之,设定操作中的电流可以大。因此,寄生在布线等上的交叉电容和布线电阻的效应影响不大,因此可以迅速进行设定操作。由于在设定操作和输出操作中使用一个晶体管,减小了相邻晶体管之间变化的影响。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1、一种半导体装置,包括第一晶体管;第二晶体管;第一开关,电连接到第一晶体管的第一端;第二开关,电连接到第一晶体管的栅极端和第二晶体管的栅极端;第三开关,电连接到第二晶体管的第一端;以及电容器,电连接到第一晶体管的栅极端和第二晶体管的栅极端。
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