[发明专利]密封系统现场寿命测量有效
| 申请号： | 200910166940.7 | 申请日： | 2009-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN101629631A | 公开（公告）日： | 2010-01-20 |
| 发明（设计）人： | L·卡斯尔曼 | 申请（专利权）人： | 特瑞堡密封系统美国有限公司 |
| 主分类号： | F16J15/00 | 分类号： | F16J15/00;G01M3/00;G01M3/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 黄永杰 |
| 地址： | 美国印*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于在两组件之间进行密封的密封系统，该密封系统包括：置于两组件之间的聚合物密封件、测量器件和评估单元。测量器件至少部分置于该聚合物密封件内，并且被配置用于测量该聚合物密封件的指示该聚合物密封件的密封性能的方面，并被配置用于产生对应该聚合物密封件的被测方面的信号。评估单元被配置用于评估对应聚合物密封件的被测方面的信号且用于确定所述聚合物密封件的密封性能。 | ||
| 搜索关键词： | 密封 系统 现场 寿命 测量 | ||
【主权项】：
1、一种用于在两组件之间进行密封的密封系统，该密封系统包括：置于两组件之间的聚合物密封件；至少部分置于所述聚合物密封件内的测量器件，其被配置用于测量所述聚合物密封件的指示所述聚合物密封件的密封性能的方面，并被配置用于产生对应所述聚合物密封件的被测的所述方面的信号；和评估单元，其被配置用于评估对应所述聚合物密封件的所述被测方面的所述信号，并且用于确定所述聚合物密封件的密封性能。
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