[发明专利]一种(200)择优取向硫化铅薄膜的制备方法无效
申请号: | 200910167920.1 | 申请日: | 2009-10-16 |
公开(公告)号: | CN101792930A | 公开(公告)日: | 2010-08-04 |
发明(设计)人: | 邓宏;陈金菊;韦敏;李国伟 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | C30B29/46 | 分类号: | C30B29/46;C30B7/14;H01L31/032;H01L31/18 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 一种(200)择优取向硫化铅薄膜的制备方法,属于电子材料技术领域,涉及半导体光电薄膜及红外光电探测器,具体是指采用化学浴沉积法制备用于近红外光电探测器的(200)择优取向的硫化铅薄膜的方法。本发明采用化学浴沉积法,通过设计反应前驱物溶液的配置流程,严格控制薄膜的初始成核过程,并通过后续的高温敏化过程,获得(200)择优取向的立方晶相硫化铅薄膜。本发明所制备的硫化铅薄膜具有良好的均匀性和光敏特性,可用于近红外光电探测器。本发明整个制备工艺过程简单、易控,制备装置简单、成本低廉。 | ||
搜索关键词: | 一种 200 择优取向 硫化铅 薄膜 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种(200)择优取向硫化铅薄膜的制备方法,包括以下步骤:步骤1:采用分析纯级氢氧化钠和去离子水配制浓度为0.1M-2.0M的氢氧化钠溶液,记为溶液A;步骤2:采用分析纯级硝酸铅和去离子水配制浓度为0.05M-0.5M的硝酸铅溶液,记为溶液B;步骤3:采用分析纯级硫脲和去离子水配制浓度为0.01M-0.5M的硫脲溶液,记为溶液C;步骤4:将溶液A、溶液B和溶液C分别置于30℃的恒温条件下保存待用;步骤5:取一定量的溶液A缓慢加入一定量的溶液B中,其中氢氧化钠和硝酸铅的摩尔比为3∶1-6∶1之间,搅拌均匀后静置10至20分钟;步骤6:将经清洗并干燥处理后的基片竖直浸没于溶液C中,其中溶液C的温度控制在30℃;步骤7:取步骤5所得溶液A和溶液B混合后的上层清液,缓慢加入到溶液C中,其中硝酸铅和硫脲的摩尔比为2∶1-1∶1之间;在此过程中,采用磁力搅拌器对溶液进行搅拌;保持反应沉积液在30℃的温度条件下反应沉积30至120分钟;步骤8:取出样品,用去离子水清洗,80℃条件下烘干;步骤9:将烘干后的样品放入敏化炉中进行恒温敏化处理,敏化温度为450℃-600℃,恒温敏化时间为1~2小时,恒温敏化处理后的样品自然冷却至室温,即得(200)择优取向硫化铅薄膜。
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