[发明专利]产生维特比解码器的参考电平的设备和方法无效
| 申请号： | 200910173145.0 | 申请日： | 2009-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN101674070A | 公开（公告）日： | 2010-03-17 |
| 发明（设计）人： | 赵辉;朴贤洙 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | H03K19/00 | 分类号： | H03K19/00;H03M13/41 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 韩明星;李娜娜 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种产生维特比解码器的参考电平的设备和方法。一种针对输入信号产生维特比解码器的最佳参考电平的设备，所述设备包括：第一参考电平检测单元，使用维特比解码器的延迟输入信号和维特比解码器的输出信号来检测第一参考电平；第二参考电平检测单元，使用比延迟输入信号晚一个时钟周期和比延迟输入信号早一个时钟周期输入的输入信号和所述输出信号，来检测第二参考电平；控制单元，使用在第一参考电平检测单元中计算的第一参考电平的第一平方电平误差和在第二参考电平检测单元中计算的第二参考电平的第二平方电平误差之间的比较结果，来将第一参考电平和第二参考电平中的一个参考电平控制为维特比解码器的参考电平。 | ||
| 搜索关键词： | 产生 解码器 参考 电平 设备 方法 | ||
【主权项】：
1、一种产生维特比解码器的参考电平的设备，所述维特比解码器接收输入信号并根据参考电平输出输出信号，所述设备包括：第一参考电平检测单元，使用第一延迟输入信号和维特比解码器的输出信号来检测第一参考电平，其中，所述延迟输入信号相对于输入信号被延迟；第二参考电平检测单元，使用维特比解码器的输出信号和比第一延迟输入信号晚一个时钟周期输入的第二延迟输入信号和比第一延迟输入信号早一个时钟周期输入的第三延迟输入信号，来检测第二参考电平；控制单元，使用在第一参考电平检测单元中计算的第一参考电平的第一平方电平误差和在第二参考电平检测单元中计算的第二参考电平的第二平方电平误差之间的比较结果，来将第一参考电平和第二参考电平中的一个参考电平选择为维特比解码器的参考电平。
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