[发明专利]用于粒子分类系统的光学检测器无效
| 申请号： | 200910173676.X | 申请日： | 2004-08-16 |
| 公开（公告）号： | CN101776599A | 公开（公告）日： | 2010-07-14 |
| 发明（设计）人： | J·R·吉尔伯特;E·辛诺夫斯基;M·德什潘德 | 申请（专利权）人： | 塞通诺米/ST有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华;李辉 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于采集来自空间通道阵列的快速光谱的光学系统，该光学系统包括：用于产生光束的光源，其中该光束穿过待监视的微流体芯片或通道；一个或多个透镜或光纤，用于捕捉该光源和该微流体通道中的粒子或化学物质相互作用后形成的光线；以及一个或多个检测器。该检测器可包括光放大元件，且检测器检测各个光信号并将该光信号转换成电信号。每个代表光信号强度的该电信号从各个检测器传递到电子数据采集系统用于分析。该一个或多个光放大元件可以包括光电管阵列、多阳极光电管、或耦合光电二极管检测器阵列的基于多通道平板的图像增强器。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 粒子 分类 系统 光学 检测器 | ||
【主权项】：
一种使用反射分束器将单个入射光束形成为间距受控的更小光束阵列的系统，该系统包括：反射沟槽的均匀阵列；以及用于以选定的角度将反射沟槽阵列呈现给入射束的定位器。
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