[发明专利]用于在生产过程期间产生晶片形元件的数字静止图片的方法及装置有效
| 申请号： | 200910173726.4 | 申请日： | 2009-09-10 |
| 公开（公告）号： | CN101673784A | 公开（公告）日： | 2010-03-17 |
| 发明（设计）人： | 米夏埃多·斯特尔兹利 | 申请（专利权）人： | 史考特公司 |
| 主分类号： | H01L31/18 | 分类号： | H01L31/18;G01N21/892 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 刘国伟 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明提出一种用于在生产过程中产生晶片形元件的数字静止图片(EB)的方法及装置，所述元件可以是在生产过程期间在传送带(BD)上连续输送的晶片或太阳能电池(SZ)。所述装置包括相机，所述相机从所述晶片形元件(SZ)的截面拍摄图片，特定来说跨越输送方向逐行地连续拍摄数字图片(线性扫描)且接着对图像数据进行取样。所述装置进一步包括硬件设计的图像数据处理单元(例如FPGA)，所述图像数据处理单元用于检测作为特定晶片形元件的开始(A)的指示或末尾(E)的指示的边缘(KA)，其中所述边缘检测是用于控制待拍摄以用于视觉检验以找出所述太阳能电池的缺陷区域的数字静止图片(EZ)的产生。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 生产过程 期间 产生 晶片 元件 数字 静止 图片 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、一种用于在生产过程中产生依序排列在传送带(BD)上的晶片形元件(SZ)的数字静止图片(EB)的方法(100)，其中所述方法包括以下步骤：逐步地、特定来说逐行地且横切于移动方向地拍摄依序排列的晶片形元件(SZ)的数字图像照片并记录所获得的其图像数据(步骤110)；借助基于硬件的图像数据处理来评估所述记录的图像数据以检测表示所述晶片形元件的开始(A)或末尾(E)的指示的边缘(KA)(步骤120)；依赖于所述所检测边缘来控制所述数字静止图片(EB)从所述所检测图像数据的所述产生(步骤130)。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的，一个或多个电光源，如场致发光光源在结构上相连的，并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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