[发明专利]微结构制造方法有效

专利信息
申请号: 200910174511.4 申请日: 2009-09-28
公开(公告)号: CN102030303A 公开(公告)日: 2011-04-27
发明(设计)人: 陈晓翔;叶力垦;刘政谚 申请(专利权)人: 微智半导体股份有限公司
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 代理人: 陈红
地址: 中国台湾新竹市光复*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种应用于半导体制程的微结构制造方法。此微结构制造方法包括以下步骤。先形成内含有微结构、多个金属电路与金属连接层的绝缘层于硅基底上。其中微结构与金属电路平行并排于绝缘层内,金属连接层则与金属电路电性连接,且金属连接层外露于绝缘层表面。之后,沉积保护层于金属连接层与绝缘层表面,并进行蚀刻以令微结构悬浮。借此避免微结构与金属连接层遭到蚀刻液侵蚀破坏。
搜索关键词: 微结构 制造 方法
【主权项】:
一种微结构制造方法,应用于半导体制程,其特征在于,该微结构制造方法包括:形成内含有一微结构、多个金属电路与一金属连接层的一绝缘层于一硅基底上,其中该微结构与该些金属电路平行并排于该绝缘层内,该金属连接层与该些金属电路电性连接,且该金属连接层外露于该绝缘层表面;沉积一保护层于该金属连接层与该绝缘层表面;以及蚀刻悬浮该微结构。
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