[发明专利]测试电路和片上系统无效
| 申请号： | 200910178653.8 | 申请日： | 2006-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN101694512A | 公开（公告）日： | 2010-04-14 |
| 发明（设计）人： | 宋海镇;朱镇太 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 邵亚丽 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测试电路以及片上系统。所述测试电路包括：输入/输出引脚，用于接收测试数据；延迟复位信号生成器，用于延迟复位信号；计数器，用于响应于所述复位信号而对时钟信号计数以生成计数值；模式寄存器，用于存储所述测试数据；以及解码器，用于生成到所述模式寄存器的选择信号，以指定在所述模式寄存器中写入测试数据的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 系统 | ||
【主权项】：
一种测试电路，包括：输入/输出引脚，用于接收测试数据；延迟复位信号生成器，用于延迟复位信号；计数器，用于响应于所述复位信号而对时钟信号计数以生成计数值；模式寄存器，用于存储所述测试数据；以及解码器，用于生成到所述模式寄存器的选择信号，以指定在所述模式寄存器中写入测试数据的位置。
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