[发明专利]引线框、半导体装置以及引线框的制造方法有效

专利信息
申请号: 200910179516.6 申请日: 2009-10-12
公开(公告)号: CN101887877A 公开(公告)日: 2010-11-17
发明(设计)人: 高桥刚介;田代永;森光则 申请(专利权)人: 日立电线精密株式会社
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L23/13;H01L21/48
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 钟晶
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供可确保粗糙化品质且可廉价提供的引线框、半导体装置以及引线框的制造方法。本发明的引线框(1)具备由金属材料构成的基材(10)、在基材(10)的一部分上设置的、可以搭载半导体元件的元件搭载部(20)、作为基材(10)的表面的一部分的且在与密封元件搭载部(20)所搭载的所述半导体元件的密封材料相接触的区域的至少一部分上设置的粗糙化面(30)。
搜索关键词: 引线 半导体 装置 以及 制造 方法
【主权项】:
一种引线框,其具备:由金属材料构成的基材,在所述基材的一部分上设置的、可以搭载半导体元件的元件搭载部,作为所述基材的表面的一部分的、在与密封所述元件搭载部所搭载的所述半导体元件的密封材料相接触的区域的至少一部分上设置的粗糙化面。
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