[发明专利]缺陷像素检测纠正设备、系统及检测纠正缺陷像素的方法有效
| 申请号： | 200910179601.2 | 申请日： | 2009-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN101764926A | 公开（公告）日： | 2010-06-30 |
| 发明（设计）人： | 马克·王;陈睿 | 申请（专利权）人： | 凹凸电子(武汉)有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/217 | 分类号： | H04N5/217;H04N5/335 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所 11277 | 代理人： | 刘新宇;王璐 |
| 地址： | 430074 湖北省武汉*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种缺陷像素检测纠正设备、系统及检测纠正缺陷像素的方法，所述缺陷像素检测纠正设备其包括检测模块和纠正模块。所述检测模块区分传感器中的一像素为一缺陷像素，并存储该缺陷像素的位置信息。纠正模块连接至所述检测模块，用来根据所述位置信息确认所述缺陷像素，并纠正所述缺陷像素对应的一数字像素信号。本发明对缺陷像素进行了检测及纠正，并提供已纠正的像素信号，从而提高了画面质量。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 像素 检测 纠正 设备 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种缺陷像素检测纠正设备，与一传感器连接，其特征在于，所述缺陷像素检测纠正设备至少包括：检测模块，区分该传感器中的一像素为一缺陷像素，并存储该缺陷像素的位置信息；和纠正模块，连接至所述检测模块，用来根据所述位置信息确认所述缺陷像素，并纠正所述缺陷像素对应的一数字像素信号。
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