[发明专利]半导体照明产品散热性能检测装置及其检测方法

摘要

本发明公开一种半导体照明产品散热性能检测装置，包括：物理特性参数输入模块，采集导体照明产品的物理特性参数；快速辐射功率测试仪，采集半导体照明产品辐射量数据；电参数发生及测量仪，输入功率至半导体照明产品，测量其输出电信号；温度探测器，探测半导体照明产品内、外测试点温度信号；变环境测试积分球，设定半导体照明产品环境参数；中央监控及处理计算机，接收上述参数后运算处理；参数分析及等效变换模块，将半导体照明产品光电特性及物理特性归一化变换，推算等效标准模型状态下工作参数，中央监控及处理计算机根据工作参数输出测试数据，曲线及综合分析报告。本发明测试结果能够基本复原使用环境，减小测试环境差异而造成的误差。

主权项

一种半导体照明产品散热性能检测装置，其特征在于：包括中央监控及处理计算机和分别与中央监控及处理计算机连接的快速辐射功率测试仪、电参数发生及测量仪、温度探测器、变环境测试积分球、参数分析及等效变换模块；物理特性参数输入模块用于采集导体照明产品的物理特性参数；快速辐射功率测试仪用于采集半导体照明产品的辐射量数据；电参数发生及测量仪用于向半导体照明产品提供所需的电功率，同时测量半导体照明产品的工作过程中的交流及直流电参数；温度探测器用于探测半导体照明产品内、外部测试基点的温度；变环境测试积分球用于产生半导体照明产品所需的环境的温度；中央监控及处理计算机接收上述功率数据、电信号、温度信号及环境参数；参数分析及等效变换模块用于将半导体照明产品光电特性及物理特性进行归一化变换，推算出等效数学模型状态下的工作参数，中央监控及处理计算机根据该工作参数输出测试数据、曲线及综合分析报告。