[发明专利]一种数控装备实验模态分析方法有效
| 申请号： | 200910193883.1 | 申请日： | 2009-11-12 |
| 公开（公告）号： | CN101718613A | 公开（公告）日： | 2010-06-02 |
| 发明（设计）人： | 李斌;毛新勇;毛宽民;刘红奇;魏要强;刘涛;尹玲;陈琳 | 申请（专利权）人： | 东莞华中科技大学制造工程研究院;华中科技大学 |
| 主分类号： | G01M7/02 | 分类号： | G01M7/02;G01H1/00 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 刘克宽 |
| 地址： | 523808 广东省东莞市松山湖北部*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种数控装备实验模态分析方法，属于数控装备性能参数分析技术领域；它包括“自激励”输入，通过“自激励”对数控装备结构产生宽频带激励；在分析数控装备各部件激励响应敏感点的基础上，优化布置测试点；拾取各布置测试点的激励响应信号数据；对激励响应信号数据进行采集；对采集数据进行分析再处理；基于峰值法对参考点和各响应点的激励响应信号数据进行处理，得出数控装备结构的动态特性参数。本发明突破了已有实验模态分析技术要求外加激励输入和对激励输入各种强制假设的缺陷，由于不需要外部激励，试验成本可以大大降低。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 数控 装备 实验 分析 方法 | ||
【主权项】：
一种数控装备实验模态分析方法，其特征在于，它包括如下步骤：1)“自激励”输入，利用数控装备运动规律给数控装备输入自激励信号，通过“自激励”对数控装备结构产生输入激励；2)在分析数控装备各部件激励响应敏感点的基础上，获取数控装备响应幅度较大的点作为参考点和响应点，并优化布置参考点和响应点；3)自激励信号在参考点和响应点产生自激励响应，采集所述参考点和响应点在自激励响应后产生的响应信号；4)使用所述参考点和响应点的响应信号识别出系统的固有频率；5)对采集数据进行分析再处理，利用所述固有频率得到振型；6)基于峰值法对参考点和各响应点的固有频率所得振型进行处理，得出数控装备结构的动态特性参数。
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