[发明专利]一种提高晶体管性能的方法无效
申请号: | 200910194438.7 | 申请日: | 2009-08-21 |
公开(公告)号: | CN101694993A | 公开(公告)日: | 2010-04-14 |
发明(设计)人: | 陈天兵;彭树根;曼纽拉·内耶 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H03K19/003 | 分类号: | H03K19/003 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开一种提高晶体管性能的方法,该方法通过采用一电流源对晶体管进行恒定电流基极偏置,并通过改善偏置条件获得合适的基极恒定电流,以使该晶体管获得较大的VA,本发明可以不影响晶体管的放大系数而使晶体管获得较大的VA,改善了晶体管的性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 晶体管 性能 方法 | ||
【主权项】:
一种提高晶体管性能的方法,包括如下步骤:选择一电流源;利用该电流源对该晶体管进行基极电流偏置;调整该电流源使该晶体管基极产生一中等基极偏置电流。
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