[发明专利]晶圆的清洗方法无效
申请号: | 200910197087.5 | 申请日: | 2009-10-13 |
公开(公告)号: | CN102039288A | 公开(公告)日: | 2011-05-04 |
发明(设计)人: | 王津洲 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | B08B3/10 | 分类号: | B08B3/10;B08B3/08;H01L21/00 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李丽 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种晶圆的清洗方法,包括:将带有颗粒物的晶圆放入清洗槽内;将晶圆与清洗槽内的电极平行放置,并连接至同一电源;利用外加电场的作用,将晶圆上颗粒物与晶圆分离。本发明能使颗粒物与晶圆分离,形成停留在清洗液中的颗粒,达到清洗晶圆各个面的最佳效果,进而能使晶圆的质量提高。 | ||
搜索关键词: | 清洗 方法 | ||
【主权项】:
一种晶圆的清洗方法,其特征在于,包括:将带有颗粒物的晶圆放入清洗槽内;将晶圆与清洗槽内的电极平行放置,并连接至同一电源;利用外加电场的作用,将晶圆上颗粒物与晶圆分离。
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