[发明专利]光罩清洗方法有效

专利信息
申请号: 200910199450.7 申请日: 2009-11-26
公开(公告)号: CN102078869A 公开(公告)日: 2011-06-01
发明(设计)人: 陈建山;李德建 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: B08B7/04 分类号: B08B7/04;B08B7/00;B08B3/08;B08B3/04
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 20120*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种光罩清洗方法,包括如下步骤:在臭氧清洗设备中进行下述步骤:采用短波长的紫外光照射所述光罩;采用含臭氧的水溶液清洗所述光罩;去离子水清洗所述光罩;然后,在SPM清洗设备中进行下述步骤:去离子水清洗所述光罩;采用SC1溶液清洗所述光罩;去离子水清洗所述光罩;烘干。所述方法可以实现清洗过程中不引入硫酸根离子,并且节约使用臭氧清洗设备。
搜索关键词: 清洗 方法
【主权项】:
一种光罩清洗方法,其特征在于,包括如下步骤:在臭氧清洗设备中进行下述步骤:采用短波长的紫外光照射所述光罩;采用含臭氧的水溶液清洗所述光罩;去离子水清洗所述光罩;然后,在SPM清洗设备中进行下述步骤:去离子水清洗所述光罩;采用SC1溶液清洗所述光罩;去离子水清洗所述光罩;烘干。
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