[发明专利]双位快闪存储器的制作方法无效
| 申请号： | 200910201186.6 | 申请日： | 2009-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN102097490A | 公开（公告）日： | 2011-06-15 |
| 发明（设计）人： | 三重野文健 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
| 主分类号： | H01L29/792 | 分类号： | H01L29/792 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 李丽 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种双位快闪存储器的制作方法，包括：提供半导体衬底，在所述半导体衬底上依次形成栅介电层与栅电极层，刻蚀所述栅电极层及栅介电层，形成栅极结构；侧向刻蚀栅介电层的部分区域，在栅介电层两侧形成开口；在栅电极层与半导体衬底表面形成隔离层；在半导体衬底及栅极结构上形成氮化硅，所述氮化硅填充到栅介电层的开口中，栅电极层与半导体衬底表面的隔离层将所述氮化硅与栅电极层及半导体衬底隔离；刻蚀氮化硅，仅保留位于栅介电层开口处的氮化硅，所述开口处的氮化硅形成电荷俘获层。 | ||
| 搜索关键词： | 双位快 闪存 制作方法 | ||
【主权项】：
一种双位快闪存储器的制作方法，包括：提供半导体衬底，在所述半导体衬底上依次形成栅介电层与栅电极层，刻蚀所述栅电极层及栅介电层，形成栅极结构；侧向刻蚀栅介电层的部分区域，在栅介电层两侧形成开口；在栅电极层与半导体衬底表面形成隔离层；在半导体衬底及栅极结构上形成氮化硅，所述氮化硅填充到栅介电层的开口中，栅电极层与半导体衬底表面的隔离层将所述氮化硅与栅电极层及半导体衬底隔离；刻蚀氮化硅，仅保留位于栅介电层开口处的氮化硅，所述开口处的氮化硅形成电荷俘获层。
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