[发明专利]一种适用于化学气体环境的露点仪无效
申请号: | 200910201342.9 | 申请日: | 2009-12-17 |
公开(公告)号: | CN102103098A | 公开(公告)日: | 2011-06-22 |
发明(设计)人: | 王志兰;吴伟 | 申请(专利权)人: | 上海莫克电子技术有限公司 |
主分类号: | G01N25/66 | 分类号: | G01N25/66 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 201203 上海市浦东新区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种适用于化学气体环境的露点仪,包括探头和手持表,具有探头加温装置;且仪表外壳达到IP65防护标准;所述探头加温装置的温度可调,至少包括加热去露档、去油污档和高温去杂档三个调节档;所述手持表还包括用户操作界面,提供探头加温装置调节档选择菜单。本发明的优点在于,能够有效的除去探头上沉积的灰尘与颗粒,保证露点仪测量的精确性。 | ||
搜索关键词: | 一种 适用于 化学 气体 环境 露点 | ||
【主权项】:
一种适用于化学气体环境的露点仪,包括探头和手持表,其特征在于,具有探头加温装置,且仪表外壳达到IP65防护标准。
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