[发明专利]用于检测和补偿在压力测量单元上的快速温度变化的方法有效
申请号: | 200910211540.3 | 申请日: | 2009-11-04 |
公开(公告)号: | CN101738287A | 公开(公告)日: | 2010-06-16 |
发明(设计)人: | J·雅各布;H·格吕勒 | 申请(专利权)人: | VEGA格里沙贝两合公司 |
主分类号: | G01L19/04 | 分类号: | G01L19/04;G01L9/12 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 赵科 |
地址: | 德国沃*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及检测和补偿压力测量单元上的快速温度变化的方法,借助设置在施加了压力的膜上的第一传感器装置产生与膜的偏转成比例的测量信号,借助设置在施加了压力的膜上的第二传感器装置产生与膜的偏转成比例的参考信号及借助微处理器根据测量信号产生测量值及根据参考信号产生所属的参考值。根据本发明,依据测量值将参考值期望值的容差带存储在微处理器的存储器中,及将当前产生的参考值与容差带中的期望值比较,及在一致时检测由压力引起的膜偏转,并输出测量值作为所测量的压力的测量值,或在不一致时检测通过快速温度变化引起的膜偏转,然后用校正值校正测量值,并输出校正的测量值作为测量的压力的测量值。 | ||
搜索关键词: | 用于 检测 补偿 压力 测量 单元 快速 温度 变化 方法 | ||
【主权项】:
一种用于检测和补偿压力测量单元上的快速温度变化的方法,所述方法包括以下步骤(a)借助设置在被施加有压力的膜上的第一传感器装置(Cmess)产生取决于膜的偏转的测量信号,(b)借助设置在所述被施加有压力的膜上的第二传感器装置(Cref)产生取决于膜的偏转的参考信号,(c)借助微处理器根据所述测量信号产生一组测量值(Cm),以及(d)根据所述参考信号产生一组相应的参考值(Cr),其特征在于,(i)依据所述测量值,用于一组期望的参考值(Cr)的容差带被存储在所述微处理器的存储器中,以及(ii)所述参考值(Cr)与所述容差带中的所述一组期望值相比较,并且如果所述一组期望值与所述容差带一致,则:(1)在一致时,检测到由于压力引起的膜偏转,并且所述测量值(Cm)作为所测量的压力的测量值被输出,并且如果所述一组期望值与所述容差带不一致,则(2)检测到由快速温度变化引起的膜偏转,用校正值校正所述测量值(Cm),并且为所测量的压力输出校正后的测量值。
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