[发明专利]光学探测装置及包含所述光学探测装置的测量系统无效
| 申请号： | 200910211939.1 | 申请日： | 2007-09-18 |
| 公开（公告）号： | CN101726250A | 公开（公告）日： | 2010-06-09 |
| 发明（设计）人： | 钟政英;曾健明;叶光明;朱志良;李佶峰;林佑整 | 申请（专利权）人： | 财团法人金属工业研究发展中心 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/02;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 沈锦华 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种测量系统，其包括透镜装置、图像检索装置、定位平台、光学探测装置及信号处理装置。所述图像检索装置通过所述透镜装置检索物体的图像。所述定位平台用以调整所述透镜装置的焦距。所述光学探测装置用以探测所述物体的位置且发出第一信号。所述信号处理装置在接收且处理所述第一信号后发出第二信号至所述定位平台。借此，可实现自动对焦功能。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 探测 装置 包含 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种测量系统，其包括：透镜装置；图像检索装置，其通过所述透镜装置检索物体的图像；定位平台，其用以调整所述透镜装置的焦距；光学探测装置，其用以探测所述物体的位置且发出第一信号；及信号处理装置，其在接收且处理所述第一信号后发出第二信号至所述定位平台。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于财团法人金属工业研究发展中心，未经财团法人金属工业研究发展中心许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200910211939.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
