[发明专利]一种测量地层岩性和密度的方法无效

专利信息
申请号: 200910215889.4 申请日: 2009-12-31
公开(公告)号: CN101737038A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 田彦民;刘东友;贾菲;王洁冰;郭嗣杰;范广军;乔日东 申请(专利权)人: 中国船舶重工集团公司第七一八研究所
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 付雷杰;郭德忠
地址: 056027 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明涉及一种测量地层岩性和密度的方法,属于石油勘测技术领域。根据康普顿散射理论,计算每个能窗的计数率响应:ln(C)=a1+a2ρe+a3(ρe)2+a4(ρe)3+a5L+a6x3+a7x4,建立包含4个未知数(ρe、L、x3、x4)的若干个非线性方程;每个测量点运用包含4个未知数的非线性方程组进行计算;用最小二乘法求解方程组,得到ρe、L以及x3、x4;地层密度ρb的公式ρb=1.0704-0.1883,x3、x4与密度补偿值Δρ之间的关系为Δρ=d6x3+d7x4,在全谱岩性密度测井中,用地层和泥饼之间的密度差ρp=d6x3和地层和密度之间的岩性差别Δρm=d7x4作为曲线输出,地层光电指数Pe=4.16L+0.464。采用本发明得到的固定肋角在不同井况条件下测量的准确性高。
搜索关键词: 一种 测量 地层 密度 方法
【主权项】:
一种测量地层岩性和密度的方法,其特征在于其具体测量步骤为:根据康普顿散射理论,计算每个能窗的计数率响应如公式(1)所示:1n(C)=a1+a2ρe+a3(ρe)2+a4(ρe)3+a5L+a6x3+a7x4 (1)式中C为探测器能窗计数率;ρe为地层电子密度;L为地层岩性系数;a1、a2、a3、a4、a5、a6、a7为系数;x3和x4泥饼影响项;1)地层密度的计算根据公式(1),建立包含4个未知数:ρe为地层电子密度、L为地层岩性系数、x3泥饼影响项和x4泥饼影响项的若干个非线性方程,方程数量取决于能谱分能窗的数量;每个测量点运用包含4个未知数的非线性方程组进行计算;用最小二乘法求解方程组,得到ρe、L以及x3、x4;得到地层电子密度ρe,地层电子密度转换成地层视体积密度即地层密度ρb的公式如公式(2)所示:ρb=1.0704-0.1883 (2)上述方法得到的x3、x4与密度补偿值Δρ之间的关系如公式(3)所示:Δρ=d6x3+d7x4 (3)式中d6、d7为常数;在全谱岩性密度测井中,用地层和泥饼之间的密度差ρp=d6x3和地层和密度之间的岩性差别Δρm=d7x4分别作为曲线输出;2)此外地层岩性计算利用下列公式计算地层光电指数Pe,如公式(4)所示:其中L为地层岩性系数Pe=4464 (4)。
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