[发明专利]一种非晶硅太阳能电池的激光划刻工艺无效
申请号: | 200910218149.6 | 申请日: | 2009-12-17 |
公开(公告)号: | CN102104022A | 公开(公告)日: | 2011-06-22 |
发明(设计)人: | 杨继泽;刘万学;张兵;王德宏;王巍;强艳建;钟福建;赵松雪 | 申请(专利权)人: | 吉林庆达新能源电力股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/82 | 分类号: | H01L21/82;H01L31/20 |
代理公司: | 吉林省长春市新时代专利商标代理有限公司 22204 | 代理人: | 石岱 |
地址: | 136000 *** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 本发明涉及太阳能电池生产领域,具体的说是一种非晶硅太阳能电池的激光划刻工艺。该激光划刻工艺的具体步骤是,首先在钢化玻璃上溅镀一层TCO膜,通过激光划刻设备对TCO膜划刻一道沟槽,沟槽划刻宽度为40-50微米,深度为TCO膜的厚度;然后在TCO膜表面沉积一层PIN膜,再采用激光划刻设备对PIN膜划刻一道沟槽,沟槽划刻的宽度为50-80微米,深度为PIN膜的厚度;再在PIN膜表面沉积Al导电膜,最后通过激光划刻设备对Al导电膜划刻一道沟槽,沟槽划刻的宽度一般为50-60微米,深度为Al导电膜的厚度。本发明还具有结构简单合理,激光划刻工艺简单,效果好,太阳能电池的结构稳定,电池的转换效率高等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 非晶硅 太阳能电池 激光 刻工 | ||
【主权项】:
一种非晶硅太阳能电池的激光划刻工艺,其特征在于:该激光划刻工艺的具体步骤如下:首先在钢化玻璃(1)上溅镀一层TCO膜(2),通过激光划刻设备对TCO膜(2)划刻一道沟槽(5),沟槽(5)划刻宽度为40‑50微米,深度为TCO膜(2)的厚度;然后在TCO膜2表面沉积一层PIN膜(3),再采用激光划刻设备对PIN膜(3)划刻一道沟槽(6),沟槽(6)划刻的宽度为50‑80微米,深度为PIN膜(3)的厚度;再在PIN膜(3)表面沉积Al导电膜(4),最后通过激光划刻设备对Al导电膜(4)划刻一道沟槽(7),沟槽(7)划刻的宽度一般为50‑60微米,深度为Al导电膜(4)的厚度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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