[发明专利]基于聚类的高阶累量交叉熵的SAR图像变化检测方法有效

专利信息
申请号: 200910219350.6 申请日: 2009-12-07
公开(公告)号: CN101738607A 公开(公告)日: 2010-06-16
发明(设计)人: 焦李成;张小华;张静;侯彪;刘芳;王爽;马文萍;张向荣 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41;G01S13/90;G06T7/00
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华;朱红星
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种基于聚类的高阶累量交叉熵的SAR图像变化检测方法,主要解决现有模型法检测中,在变化范围很小的情况下检测结果不准确的缺点。其实现过程包括:(1)利用K均值聚类方法提取窗口的像素点;(2)利用欧氏距离去掉多余像素点;(3)用提取出的窗口的像素点作为样本点进行基于高阶累量的交叉熵算法计算,得到变化差异图;(4)对差异图用最大类间方差阈值方法得到二值图;(5)对二值图像考虑邻域关系进行基于邻域的去杂点运算得到最终的变化检测结果。本发明具有检测小目标变化的优点,可用于检测多时相SAR图像变化的目标。
搜索关键词: 基于 高阶累量 交叉 sar 图像 变化 检测 方法
【主权项】:
一种基于聚类的高阶累量交叉熵的SAR图像变化检测方法,包括如下步骤:(1)选取两幅不同时相的SAR图像,对单幅图像以每一个像素为中心选取窗口作为该中心点的邻域,对窗口内像素进行K均值聚类,根据聚类结果进行类别合并,确定窗口内类别,提取与中心像素点同属一类的像素点;(2)将步骤(1)中提取出的第一幅图的像素点个数n1和第二幅图的像素点个数n2进行个数一致性处理,如果n1<n2,则在第二幅图窗口中计算所有与窗口中心点同类的像素点与窗口中心点的欧式距离,并选取n1个欧式距离最小的像素点作为第二幅图窗口的像素点;如果n1>n2,则在第一幅图窗口中计算所有与窗口中心点同类的像素点与窗口中心点的欧式距离,并选取n2个欧式距离最小的像素点作为第一幅图窗口的像素点,以处理后的两组像素点作为样本点进行基于高阶累量的交叉熵计算,得到变化差异图;(3)对每一个像素点重复步骤(1)~(2),得到一幅变化差异图;(4)对得到的变化差异图用最大类间方差阈值方法取阈值,得到包含目标像素点的二值图像;(5)在二值图像中以每一个像素为中心选取窗口边长为L的正方形窗口,窗口内像素个数为L2;(6)计算窗口内部包含的目标像素点的个数N,如果N>L+1,则确认此窗口中心像素是目标像素点;如果N≤L+1,计算与窗口中心像素点相连通的目标像素点的个数n,如果n>(L+1)/2,则确认此窗口中心像素点是目标像素点,如果n≤(L+1)/2,则将此窗口中心像素点标记为被错误检测的像素点,将所有被标记的像素点的像素值设为0;(7)重复步骤(5)~(6),对每一个像素点进行判断,得到最终的变化检测结果图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安电子科技大学,未经西安电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910219350.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top