[发明专利]扫描寄存器、扫描链、芯片及其测试方法有效

专利信息
申请号: 200910222729.2 申请日: 2009-11-17
公开(公告)号: CN102062836A 公开(公告)日: 2011-05-18
发明(设计)人: 王金城 申请(专利权)人: 三星半导体(中国)研究开发有限公司;三星电子株式会社
主分类号: G01R31/317 分类号: G01R31/317;G01R31/3185
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 韩明星;杨静
地址: 215021 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种扫描寄存器、包括所述扫描寄存器的扫描链、包括所述扫描链的可测试芯片以及测试所述可测试芯片的方法。所述扫描寄存器包括:输入单元,接收数据信号和扫描信号,并根据扫描使能信号来输出接收的数据信号或扫描信号;触发器单元,接收来自所述输入单元的数据信号或扫描信号,并根据时钟信号来输出接收的数据信号或扫描信号;输出单元,包括数据输出端和扫描输出端,所述输出单元接收来自所述触发器单元的数据信号或扫描信号,并根据扫描使能信号通过所述数据输出端输出接收的数据信号或者通过所述扫描输出端输出接收的扫描信号。因此,可以独立地向功能路径和扫描路径提供信号,从而减小了动态功耗。
搜索关键词: 扫描 寄存器 芯片 及其 测试 方法
【主权项】:
一种扫描寄存器,其特征在于包括:输入单元,以用于接收数据信号和扫描信号,并根据扫描使能信号来输出接收的数据信号或扫描信号;触发器单元,以用于接收来自所述输入单元的数据信号或扫描信号,并根据时钟信号来输出接收的数据信号或扫描信号;输出单元,以用于接收来自所述触发器单元的数据信号或扫描信号,并根据扫描使能信号通过数据输出端输出接收的数据信号或者通过扫描输出端输出接收的扫描信号。
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