[发明专利]一种光学条纹正弦性评测方法无效

专利信息
申请号: 200910236216.7 申请日: 2009-10-23
公开(公告)号: CN101694376A 公开(公告)日: 2010-04-14
发明(设计)人: 赵慧洁;姜宏志;李冬;李旭东;周杰 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种光学条纹正弦性评测方法,用于基于正弦条纹投射的立体视觉测量中的光学投射条纹的正弦性评测。该方法将投射器出射的光学条纹投于光屏上,调整投射器参数,使条纹按照一定相位间隔P进行连续移相,每次移相后用相机拍摄光屏上的条纹,移相和拍摄次数为2π/P,在多次条纹移相和相机拍摄过程中,投射器、相机和光屏的位置和姿态需保持不变;然后,根据拍摄得到的条纹图像,以条纹上任意一点在不同图像中的灰度值变化,拟合正弦曲线,计算得到投射器出射条纹的误差标准差,作为评测光学条纹正弦性好坏的标准。该方法具有简单、灵活、可靠性好的特点,可用于各种正弦条纹投射器的测试和评价,也可用于影响条纹正弦性的因素分析等方面。
搜索关键词: 一种 光学 条纹 正弦 评测 方法
【主权项】:
1.一种光学条纹正弦性评测方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)将投射器出射的条纹投于光屏上,调整投射器相移控制参数,使条纹按照一定相位间隔P进行多次等间隔连续移相,每次移相后用相机拍摄光屏上的条纹,获得条纹图像序列Img;(2)根据移相先后顺序,在条纹图像序列Img中的每幅图像上,提取同一坐标(x,y)的灰度值,作为图像灰度数组h1;再将每幅图像对应的移相次数i与相位间隔P相乘,得到与图像灰度数组h1对应的相移数组t1;根据图像灰度数组h1和相移数组t1,采用最小二乘曲线拟合的方法,按照下面公式,计算标准正弦条纹表达式,其中,A、B和为需要求取的未知数,A为以图像灰度来表达的正弦曲线的幅值,B为以图像灰度来表达的正弦曲线的直流分量,为以图像灰度来表达的正弦曲线的初始相位;并由A、B和计算标准正弦条纹的在相移数组t1上的灰度值数组h2,(3)按照下面公式计算条纹灰度误差数组ee=h2-h1再计算误差数组e的标准差StdH,则投射器出射的光学条纹的误差和标准差Std为Std=StdHA×100%]]>以误差标准差Std作为比较和评测光学条纹正弦性好坏的标准。
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