[发明专利]检测TFT阵列基板的设备及方法有效
| 申请号： | 200910236438.9 | 申请日： | 2009-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN102043266A | 公开（公告）日： | 2011-05-04 |
| 发明（设计）人： | 白国晓;田超 | 申请（专利权）人： | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100176 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种检测TFT阵列基板的设备及方法，涉及液晶显示技术领域，能够利用一台设备检测出TFT阵列基板上的电学性和光学性不良，简化了检测工序，提高了检测效率。本发明实施例提供的设备包括：包括承载待检测TFT阵列基板的透光载台，透光载台的一侧设有光源，另一侧设有与透光载台平行的调制器；光源发出的光线透过第一偏光片垂直照射到透光载台；调制器包括：液晶层和分别位于液晶层两侧的两个透明基板层，并且其中一个远离透光载台的透明基板层为导电透明基板层，该导电透明基板层上设有第二偏光片；该设备还包括光接收器，光接收器接收光源发射出的透过透光载台、待测TFT阵列基板和调制器的光线。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 tft 阵列 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种检测TFT阵列基板的设备，其特征在于，包括承载待检测TFT阵列基板的透光载台，所述透光载台的一侧设有光源，另一侧设有与所述透光载台平行的调制器(Modulator)；所述光源发出的光线透过第一偏光片垂直照射到所述透光载台；所述调制器包括：液晶层和分别位于液晶层两侧的两个透明基板层，并且其中一个远离所述透光载台的透明基板层为导电透明基板层，所述导电透明基板层上设有第二偏光片；所述设备还包括光接收器(Camera)，所述光接收器接收光源发射出的透过所述透光载台、待测TFT阵列基板和调制器的光线。
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