[发明专利]一种图像传感器坏点检测的方法和系统有效
申请号: | 200910238438.2 | 申请日: | 2009-11-20 |
公开(公告)号: | CN101715050A | 公开(公告)日: | 2010-05-26 |
发明(设计)人: | 曹玉弟 | 申请(专利权)人: | 北京中星微电子有限公司 |
主分类号: | H04N5/217 | 分类号: | H04N5/217;H04N17/00 |
代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 苏培华 |
地址: | 100083 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种图像传感器坏点检测的方法和系统,所述方法包括:利用图像传感器对多个不同颜色的单色面板分别采集相应的单色图像;分别对各个单色图像进行像素分析,将得到的各个单色图像的坏点坐标记录在各个单色坏点列表中;通过比较所述各个单色坏点列表,综合确定出所述图像传感器的坏点坐标。本发明还提供了一种图像传感器坏点检测的系统,包括单色图像获取模块、像素分析模块和坏点确定模块。本发明可以检测出多种颜色环境下的坏点,更加准确地检测出不同情况的坏点,提高了坏点检测的准确性。同时,本发明将各个单色图像的坏点列表进行综合分析,划分不同的坏点级别,能够适应不同检测质量的需要,灵活性强。 | ||
搜索关键词: | 一种 图像传感器 检测 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种图像传感器坏点检测的方法,其特征在于,包括:利用图像传感器对多个不同颜色的单色面板分别采集相应的单色图像;分别对各个单色图像进行像素分析,将得到的各个单色图像的坏点坐标记录在各个单色坏点列表中;通过比较所述各个单色坏点列表,综合确定出所述图像传感器的坏点坐标。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京中星微电子有限公司,未经北京中星微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910238438.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:治疗烧伤、烫伤的中药
- 下一篇:一种治疗脂溢性皮炎的外用剂